Helevälja vaatlusmeetod ja pimeda välja vaatlusmeetod on kaks levinud mikroskoopiatehnikat, millel on erinevat tüüpi proovivaatlustes erinevad rakendused ja eelised. Järgnevalt kirjeldatakse üksikasjalikult kahte vaatlusmeetodit.
Helevälja vaatlusmeetod:
Heleväljavaatlusmeetod on üks põhilisemaid ja laialdasemalt kasutatavaid mikroskoopiatehnikaid. Ereda väljavaatluse korral valgustatakse näidist läbiva valgusega ja pilt moodustatakse läbiva valguse intensiivsuse alusel. See meetod sobib paljude rutiinsete bioloogiliste proovide, näiteks värvitud koelõikude või rakkude jaoks.
Eelised:
Lihtne kasutada ja kasutada paljude bioloogiliste ja anorgaaniliste proovide jaoks.
Annab selge ülevaate bioloogiliste proovide üldisest struktuurist.
Puudused:
Ei sobi läbipaistvate ja värvitute proovide jaoks, kuna neil puudub sageli kontrast, mistõttu on selgete piltide saamine keeruline.
Ei suuda paljastada rakkude peeneid sisestruktuure.
Tumevälja vaatlusmeetod:
Tumeväljavaatlus kasutab proovi ümber tumeda tausta loomiseks spetsiaalset valgustusseadet. See põhjustab proovi valguse hajumist või peegeldamist, mille tulemuseks on hele pilt tumedal taustal. See meetod sobib eriti hästi läbipaistvate ja värvitute proovide jaoks, kuna see suurendab proovi servi ja kontuure, suurendades seeläbi kontrasti.
Pimeväljavaatluseks vajalik spetsiaalne lisavarustus on tumevälja kondensaator. Seda iseloomustab see, et valguskiirt ei lasta läbi vaadatavast objektist alt üles, vaid muudab valguse teekonda nii, et see on vaadeldava objekti poole kaldu, nii et valgustusvalgus ei satuks otse objektiivi, ja kasutatakse eredat kujutist, mis moodustub peegelduva või difraktsioonivalguse poolt vaadeldava objekti pinnal. Tumevälja vaatluse eraldusvõime on palju kõrgem kui ereda väljavaatluse oma, kuni 0,02-0,004 μm.
Eelised:
Kohaldatav läbipaistvate ja värvitute proovide, näiteks elusrakkude vaatlemisel.
Parandab proovi servi ja peeneid struktuure, suurendades seeläbi kontrasti.
Puudused:
Nõuab keerukamat seadistust ja spetsiifilisi seadmeid.
See hõlmab proovi ja valgusallika asukoha reguleerimist optimaalsete tulemuste saavutamiseks.
Postitusaeg: 24. august 2023