BCF295 laserskaneeriv konfokaalne mikroskoop
Konfokaalne mikroskoop suudab läbi liikuva läätsesüsteemi teha läbipaistvast objektist kolmemõõtmelise kujutise ning saab täpselt testida rakusisese struktuuri ja dünaamilist protsessi.
Spetsifikatsioon
| Üksus | Spetsifikatsioon | BCF295 |
| Optiline süsteem | NIS60 lõpmatu optiline süsteem (F200) | ● |
| Laser | Laser 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm (valikuline) | ● |
| Detektor | Lainepikkus: 400-750 nm, detektor: 3 PMT (fotokordisti toru) | ● |
| Skaneeriv pea | Maksimaalne piksli suurus: 2048 x 2048Skannimiskiirus: 2 kaadrit sekundis (512 x 512 pikslit, kahesuunaline), 18 kaadrit sekundis (512 x 32 pikslit, kahesuunaline) | ● |
| Pinhole | Ümmargune, 6 suurust | ● |
| Konfokaalne vaateväli | φ20 mm sisse kirjutatud ruut | ● |
| Tarkvara | 2D kuva/pilditöötlus/analüüs | ● |
| Okulaar (vaateväli) | 10 × (25), EP17,5 mm, reguleeritav diopter -5～+5, liides Φ30 | ● |
| Vaatepea | Siedentopf trinokulaarne vaatamispea, 45° nurga all, Pupillidevaheline 47–78 mm, okulaari liides Φ30, fikseeritud dioptriga;Okulaari/kaamera vahetamine: (100/0,50/50,0/100);okulaar/sulge okulaar/reguleeritav Bertrandi objektiiv | ● |
| NIS60 eesmärk | 10 × apokromaatilised objektiivid, NA = 0,45 WD = 4,0 katteklapp = 0,17 | ● |
| 20 × apokromaatilised objektiivid, NA = 0,75 WD = 1,1 Katteklapp = 0,17 | ● | |
| 100× apokromaatiline objektiiv, NA = 1,45 WD = 0,13 Katteklaas = 0,17 (õli) | ● | |
| Ninaotsik | Mootoriga kuuekordne ninaots (laienduspesaga), M25×0,75 | ● |
| Lava | Mootoriga juhtimine (tavatüüpi): liikumisulatus 130 mm x 100 mm (lava suurus 325 mm x 144 mm), Maksimaalne kiirus: 50mm/s;eraldusvõime: 0,1 μm, kordustäpsus: ± 1 μm (tavaline tüüp 2,5 um), absoluutne täpsus: ± 5 μmIt, saab varustada kolme spetsiaalse proovihoidiku adapteriga, nagu mitme süvendiga plaat, 35 mm kultiveerimisnõu ja slaidiplaat | ● |
| Kondensaator | 6-auguline elektrijuhtimine: NA0.55, WD26;faasikontrast (10/20, 40, 60 (valikuline)), DIC (10X, 20X/40X), tühi auk on valikuline | ● |
| Teravustamissüsteem | Koaksiaalne jäme ja peen teravustamismehhanism, käik: 7mm üles ja 2mm alla;jämereguleerimine 2mm/pööre, peenreguleerimine 0,002mm/pööre;käsitsi ja elektriline juhtimine, minimaalne samm 0,02um elektrilise juhtimise korral | ● |
| Valgustussüsteem | Kohleri ülekantav valgustus, 10W LED | ● |
| Epi-valgustus: 100W elavhõbedalambi valgustus;vaateväli/ava diafragma;3 auguga värvifiltri sisestus (filtritega ND6 ja ND25)6 auguga elektriline luminofoorplaat (standard B, G, U jaoks);elektriline fluorestseeruv katik | ||
| Kere port | Jaotussuhe: Vasak: okulaar = 100:0;parem: okulaar = 80:20 | ● |
| Vahepealne suurendus | Manuaalne 1X, 1,5X lülitus | ● |
| DIC plaat | 10X, 20X, 40X pistikplaat;saab asetada konverteri pessa | ○ |
| Võimsuse juhtkarp | Saab kuvada objektiivi suurenduse, fluorestsentsriba jne. | ● |
| Toitekaabel | 1. mikroskoobi põrutuskindel tabel: õhkpadi tüüpi konfokaalne spetsiaalne ≥1200mm × 800mm põrutuskindel tabel, paneel võtab vastu kõrge läbilaskvusega roostevabast terasest plaadi.2.Arvutitööjaam: HP tööjaamade või sarnaste jõudlusega tööjaamade komplekt. (1) HP Z840/CT Workstation/inglise OS Windows 7 64bit Professional Edition (2) Protsessor: Intel Xeon E5-26434C 3.30 10MB 1600 x 1 või sarnane jõudlus (3) RAM: 32 GB DDR -1600 ECC või sarnane jõudlus (4) Kõvaketas: 1TB 7200 RPM SATA 1ST HDD või sarnane jõudlus (5) 16X SuperMulti DVDRW SATA 1. ODD või sarnane jõudlus (6) Ekraan: 2 tk ≥20 tolli LED-taustavalgustusega laiekraan IPS LCD-ekraanid. | ● |
Märkus. ●Standardne riietus, ○ valikuline
Näidispildid
tunnistus
Logistika
Kirjutage oma sõnum siia ja saatke see meile
